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開催回
第56回・2011年・横浜
 

走査電子顕微鏡(SEM)とエネルギー分散型X線分析装置(EDS)による微粒子除去フィルター付着物質の評価 第3報

演題番号 : P-1-223

今井 基之:1、高野 雅史:2、大庭 卓也:2、大竹 三十四:2、浅野 太郎:2、柴田 猛:2、金田 浩:2、木津 たきお:1、西川 英一:1

1:東京理科大学大学院 工学研究科、2:(医)かもめ・日立クリニック

 

【目的】透析液の清浄化を目的として,微粒子除去フィルター(ETRF)が用いられている.ETRFに付着した物質について,走査電子顕微鏡(SEM)とエネルギー分散型X線分析装置(EDS)による評価を行った.【方法】ろ過方向を変え,1~5か月間使用したETRFの水洗を行い,乾燥させた中空糸外側をSEMによる観察とEDSによる定性・定量分析を行った.【結果】内→外側に5か月使用したとき,付着物質が観察され,Na・Cl・Caが検出された.外→内側に使用したとき,時間経過とともに付着物質の増加とその成長が観察され,Fe・Cr・Si・Caなどが検出された.さらに使用期間4か月のSiを含んだ付着物質群が,付着物質径と重量%で最大値となった.【結論】内→外側から,付着物質は透析液由来と考えられた.外→内側から,付着物質は透析液・配管などの微粒子が核となり,成長にはSiが関係していると考えられた.

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